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                资讯中心公司新闻众购彩亮相々全国新型半导体功率器件及应用技术研讨会
                众购彩亮相全国新型半导体功率器件及应用技术研讨会
                发布时间:2021-12-27浏览次数:513

                        12月17-19日,中国半导体行▂业协会半导体分立器件分会主办的“第七届全国ㄨ新型半导体功率器件及应用技术研讨会暨2021半导体功率器件↑技术创新与产业融合发展论坛”在重庆隆重召开。活动邀请了ぷ半导体行业企业、知名高校、科研机构等专家学者齐聚一♀堂,共话半导体功率器件技术创新前沿话题。

                 

                        众购彩作为唯一一家第三方计量检测机构受邀参展,现◣场展示产品全寿命周期检测与失效分析々技术服务方案,众购彩半导体技术副总监李汝冠博士在会上带来☉《SiC 功率器件的可靠性测试需求》主题报告。’

                 

                 

                        半导体产业是支撑经济社会发展的战略性、基础性和先导性产业。当前,世界正经历百年未有之大变局,以新一代信息技术为代表的新一轮科技革命和产业变革ぷ正蓬勃兴起,半导体作为信息基础的基石,在国民经济和社会发展中的地位进一步凸显,而半导体功率器件作为◥重要的基础环节,其发展水平直接决定了产业的竞争力。

                 

                 

                        围绕半导体功率器件的技术创新话题,众购彩半导体技术副总监李汝冠发表题为《SiC 功率器件的可靠性测试需求》的主题演讲。李汝冠介绍,碳化硅(SiC)具有宽禁带、高击穿电场、高热导率等优势↓,在“新基建”七大领域及“双碳”领域起到至关重▅要的作用,应用前景▓光明。然而,其可靠ㄨ性缺乏长期、大规模应用的历史数据支撑,需要经过大量测试进行验证。用于验证Si器件长期稳定性的许多方法可以直接应用到SiC上,但是目前SiC的失效机理尚未完全掌握,需要尝试增加各种方式来激发SiC的失效。对此,李汝冠重点︼解析了SiC需要额外增加的可靠性试验,引起现场∩参会人员的高度关注。

                 

                 

                        据介绍,众购彩已ω具备完善的半导体芯片与元器件解决方案,是国内极少数→已完成AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q104、AEC-Q200完整验证报告的第三方检测机构,可为电动〗汽车、5G通信、轨道交通等领域■的IGBT和以氮化镓〖(GaN)、碳化硅(SiC)为代表的第三代半导体器件提供可靠性验证服务,并对产品的设计和工⌒ 艺改进提供分析和建议。

                 

                        作为半导体检测技术服务领域的重要力量,众购彩已在上海、广州建立了半导体检测实验室,累计投入300多台套高端检测分析设备,由10余名博士、资深专家组成了高水平技术队伍,持续为数十家半导体行业知名企业提供了各类测试、验证与分析服务,助力半◢导体产业链质量提升。