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                众购彩 失效分析 功率模块LV/AQG 324认证试验
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                AQG324制定了完善々的车规级功率模块可靠性试验,可以有效验证产品◤可靠性,指导厂商更深入了解其产品可靠性能,从而加快产品开发速度,优化工∞艺流程↘。众购彩以LV/AQG324认证试验为基础◥,布局半导体⌒功率模块验证相关技术能力,为功率半导体产业上下游企业提供功率模块电学性能检测,材料、器件与系统的可靠性〒验证以及失效分析服务。
                服务介绍
                功率半导体模块是新能源汽车中的核心】部件之一,目前绝大多市场份额为国际巨头所垄断,而国产功率模块性能尚无法满足汽车核心装备应用△,主要原因之一是可靠性有待提升。
                 

                测试周期:

                2-3个月,提供全面的认证计划、测试卐等服务
                 

                产品范围:

                适用于MOSFET,Diode,IGBT,第三代半导体器件等元件构成的功率模块。
                 

                测试项目:

                序号 测试项目 缩写 样品数/批 测试方法
                1 Thermal shock test TST 6 IEC 60749-25
                2 Vibration V 6 DIN EN 60068-2-6
                3 Mechanical shock MS 6 DIN EN 60068-2-27
                4 Power cycling PCsec 6 IEC 60749-34
                5 Power cycle PCmin 6 IEC 60749-34
                6 High-temperature storage HTS 6 IEC 60749-6
                7 Low-temperature storage LTS 6 JEDEC JESD-22 A119
                8 High-temperature reverse bias HTRB 6 IEC 60747-9
                9 High-temperature gate bias HTGB 6 IEC 60747-9
                10 High-humidity, high-temperature reverse bias H3TRB 6 IEC 60749-5
                11 Determining parasitic stray inductance Lp 6 IEC 60747-15
                12 Determining thermal resistance Rth 6 DIN EN 60747-15
                13 Determining short-circuit capability / 6 /
                14 Insulation test / 6 /
                15 Determining mechanical data / 6 /